Saat Mənbəyini Doğrulamaq Üçün Yeni Yanaşma

Mikroidarəetmə lövhəsində saat mənbəyini müəyyən etmək üçün yeni bir metod təqdim olunub. Əvvəlki yanaşmalar arasında fiziki komponentin üzərindəki işarələri oxumaq və mikroidarəetmə lövhəsinin füzlərini dəyişərək saat siqnalını rəqəmsal çıxışda ölçmək yer alırdı. Ancaq bu metodlar bəzi məhdudiyyətlərə malikdir.

Əvvəlki Yanaşmaların Çətinlikləri

Komponentin üzərindəki işarələri oxumaq sadə olsa da, saxta və ya yanlış etiketlənmiş komponentlər üçün etibarlı deyil. Digər tərəfdən, füzlərin dəyişdirilməsi yüksək dəqiqlik təmin etsə də, mikroidarəetmə lövhəsini “brick” etmək riski daşıyır. Bu halda, xüsusi proqramlaşdırıcı və 12 V RESET pin tələb olunur.

Yeni Metod: Near-Field Prob və FFT

Bu yeni yanaşma iki əsas cihazdan istifadəni tələb edir:

1. FFT funksiyası olan osiloskop,
2. Near-field prob (sniffer prob).

FFT funksiyası verilən siqnalı tezlik komponentlərinə ayıraraq saat mənbəyini tez bir zamanda müəyyən etməyə imkan verir. Near-field prob isə PCB üzərindəki EM radiasiya yayan hissələri müəyyənləşdirmək üçün istifadə olunur.

Praktik Tətbiq

Bu metod Nano Flip mikroidarəetmə lövhəsində 16 MHz tezlikli kristalı yoxlamaq üçün tətbiq edilib. Problar kristal üzərində yerləşdirilib və osiloskopun FFT funksiyası vasitəsilə 16 MHz tezlikdə güclü bir zirvə müşahidə olunub. Bu, saat mənbəyinin doğruluğunu təsdiq edir.

Digər İstifadə Sahələri

Near-field prob FCC/ISED uyğunluq testlərində də geniş istifadə olunur. Bu testlərdə böyük prob geniş tezlik diapazonunda ilkin radiasiya mənbələrini aşkar edir, kiçik problar isə dəqiq lokalizasiya üçün istifadə olunur.

Nəticə

Bu metod saat mənbəyini doğrulamaqda sadə və effektiv bir yanaşma təqdim edir. FFT funksiyası və near-field prob birləşməsi ilə tezliklər asanlıqla müəyyən edilə bilər. Həmçinin, bu metod uyğunluq testlərində də faydalıdır.